偏光測量顯微鏡用于檢測具有雙折射性的物質，如纖維絲、紡錘體、膠原、染色體等等。高聚物在熔融和無定形時呈現光學各向同性，即各方向上折射率相同，*不能通過檢偏片，因而視野全暗。當高聚物存在晶態或取向時，光學性質隨方向而異，產生雙折射，視野明亮，可以觀察到結構形態。在高聚物多相體系研究中，對于共混和共聚，如果其中有一相可以結晶，可用于偏光顯微鏡直接研究其多相體系的結構。